阿贝原理要求标准长度量(标准线)

阿贝原理要求标准长度量（标准线）务必与被测长度量（被测线）共线，从而减少测量的误差。而IMICRO是上遵循阿贝原则的内径千分尺，使深孔测量。1.一般我们的内径千分尺测量头采用的是光滑椎体，温度的变化会导致椎体发生形变，使得原来的丝杆螺距与椎体的比例失调进而测量头被动伸缩，精度走失。2.IMICRO系列为基于阿基米德算法制作出的螺纹椎体，其随温度的变化不会影响测爪的运动，从而减少精度误差。

现将干分尺示值误差超差时经常出现的三种基本情况分别进行确定研

现将干分尺示值误差超差时经常出现的三种基本情况分别进行确定研磨量的分析：

(1)各点示值误差为正值时，说明零位以外各点所对应的丝杆螺纹工作面的磨损程度比零位小，这种情况常见于测量下限等于或大于25mm 的干分尺，如果经常使用零位附近的部位，就会出现上种情况。修理方法应为：按照示值误差的大小，示值误差大的部位多研，小的则少研。为提高研磨效率，在研磨时把微分筒稍向后右用力。

(2)当示值误差均匀为负值超差时，这种情况表现零位附近所对应的丝杆螺纹的工作面磨损程度比其它工作面小，此时应研磨零位附近的丝杆螺纹工作面。为方便研磨，可在确定丝杆的研磨部位后，把丝杆取出，再调头旋入原尺架螺母中，也可以把丝杆旋入测量下限大于或等于25mm的干分尺尺架中，进行研磨。

数显卡尺的使用方法准备工作

数显卡尺的使用方法

准备工作

1）擦干尺身表面，清洁各测量面

2）松开紧固螺钉，移动尺框，检查显示屏和各按键工作是否正常

测量

1）按开关键打开电源

2）按公英制转换键选择所需单位制

3）移动尺框，使两外测量面手感接触后按置零键置零，即可进行正常测量。

读数方法

直接在LCD显示窗读取所测值。数显卡尺具有读数直观、使用方便、功能多样的特点。数显卡尺主要由尺体、传感器、控制运算部分和数字显示部分组成。按照传感器的不同形式划分，数显卡尺分为磁栅式数显卡尺和容栅式数显卡尺两大类。

内径千分尺的使用注意事项

1、在选取接长杆时，是选取数量较少的接长杆来组成所需的尺寸，能够减少累积的误差，在连接接长杆时，需要按照尺寸的大小进行排列，尺寸较大的接长杆应该和微分头相连接，如果将尺寸小的接长杆排在组合体的中央，会使接长后千分尺的轴线因管头端面的平行度误差的而增加弯曲，导致增大测量中的误差。

2、测量时必须注意温度的变化，防止热源，尤其是大尺寸内径千分尺的温度变化，测量前应严格等温，还要尽量缩短测量的时间。

3、测量物体时，固定测头和被测表面接触，摆动活动测头的同时，需转动微分筒，使活动测头在正确的位置上与被测工件手感接触，就可以直接从内径千分尺上读数，正确测量的位置是指：测量两平行平面间的距离，应测出较小值，测量内径尺寸，轴向找较小值，径向找较大值，离开工件读数前，需用锁紧装置把测微螺杆锁紧，固定后再进行读数。